امروزه استفاده گسترده‌ای از تکنولوژی CMOS در طراحی و پیاده‌سازی مدارهای الکترونیکی می‌شود. به دلیل سرعت چشمگیر افزایش تعداد ترانزیستورها درون تراشه، کاهش ابعاد ترانزیستور ضروری می‌باشد.اما در این تکنولوژی چنین کاهشی در مقیاس زیرمیکرون به سادگی امکان‌پذیر نمی‌باشد.اتوماتای سلولی کوانتومی(QCA) روشی جدید جهت طراحی مدارها بوده که قابلیت‌های فراوانی داشته و در زمینه نانوالکترونیک کارآمد می‌باشد. در این تکنولوژی٬ انتقال اطلاعات از طریق اندرکنش سلول‌های کوانتومی صورت می‌گیرد. البته مشکلاتی نیز بر سر راه این روش جدید وجود دارد.یکی از این مشکلات نرخ خطای بالای این تکنولوژی می‌باشد. در این تحقیق انواع نقص‌هایی که در مدارهای QCA باعث ایجاد خطا در خروجی مدار می‌شود، بررسی می‌شود. در مرحله اول یک گیت به گونه‌ای طراحی می‌شود که در خروجی همیشه دو یک و یک صفر تولید می‌کند. بنابراین در حالت بدون خطا حاصل اکثریت مقادیر خروجی برابر با یک و مقدار AND منطقی برابر با صفراست. در نتیجه در صورت وجود یک خطا در خروجی این مقادیر تغییر کرده حضور خطا مشخص می‌شود.در مرحله دوم یک جمع کننده طراحی می‌شود که دارای خاصیت حفظ پریتی می‌باشد. در این مدار نیز در صورت ایجاد یک خطا در خروجی٬ پریتی متغیرهای ورودی و خروجی با هم برابر نبوده٬ با تست مدار حضور خطا مشخص می شود.
طراحی مدارهای قابل تست در اتوماتای سلولی کوانتومی
